簡介：
Tecnai G2 F20 S-TWIN 透射電子顯微鏡是一個真正多功能、多用戶環境的200kV場發射透射電子顯微鏡。該儀器配備了STEM、EDX、HAADF、CCD等附件，能采集TEM明場、暗場像和高分辨像，能進行選區電子衍射和匯聚束衍射，能進行EDX能譜分析和高分辨STEM原子序數像的分析，STEM結合EDX點、線、面掃描的可以進行微區能譜分析。該儀器還配備了相關的制樣設備，包括Gantan691離子減薄儀、磁力雙噴電解減薄器和凹坑儀等，可以進行金屬、生物以及高分子材料等樣品的透射電子顯微鏡的制樣工作。該儀器可廣泛應用于高分子材料、陶瓷、納米材料、生物學、醫學、化學、物理學、地質學、金屬、半導體材料等領域的科研，是研究各種材料的超顯微結構與性能關系所不可缺少的大型精密儀器。
利用它可進行：
（1）形貌分析：
它獲得非晶材料的質厚襯度像，多晶材料的衍射襯度像和單晶薄膜的相位襯度像(原子像)，通過形貌分析可獲得樣品的形貌、粒 徑、分散性等相關信息，同時還可通過明場像、暗場像對樣品進行進一步的表征；
（2）結構分析：
觀察研究材料結構并對樣品進行納米尺度的微分析，如：高分辨 晶格條紋像，選取電子衍射，會聚束電子衍射，Z-襯度（原子序數）成像等。
（3）成分分析：
小到幾個納米尺度的微區或晶粒的成分分析，可對樣品進行能譜點 測、能譜線掃、能譜面分布，獲得樣品中的元素在一個點、一條線、一個面上的分布情況。
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